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  • 角度
  • 収差
  • 収差・ビーム測定

0008_平行ビームの多項目測定

ビーム測定項目

1台のセンサで平行ビームの様々な特性を測定することができます。
コリメート光源の検査、調整用としてお使いいただけます。
測定項目は①強度分布②平行度③光軸角度等です。

ビーム測定装置
この技術はDVDの時代に光学ピックアップのLD光測定ニーズが
きっかけでうまれたものでしたが、
今では自動運転などに使用されているLiDARの投光ビームを調整する
技術として展開しております。

LiDAR、平行ビームの調整でお困りの際、お問い合わせ下さい。

  • 収差
  • 収差・ビーム測定

0007_ビームスポットの測定と光軸上、光軸外の収差測定

 

ビームスポットの測定

微小に絞られたレーザービームスポットを拡大して測定を行います。
ビームプロファイルを測定し、ビーム径、コマ・球面などの収差や、非点格差の測定ができます。
光学センサの画像処理ユニットを組み合わせて、ご提供します。
治具の作製もご相談ください。

実現例:DVD,BluRayの光ピックアップのスポット評価、レーザプリンタのビーム評価

ビームスポットの測定装置

ビームスポットの強度分布を測定し、そのデータから各種収差量の測定を行います。

測定データは波面解析装置との相関性があり、同等な性能を有しています。
また、波面解析装置に対し測定再現性、短時間測定の点で優れています。

光軸外の収差測定技術も開発中です。スマホ用のカメラレンズ等の軸外収差測定が可能となります。

収差測定でお困りの際お問い合わせください。

  • 角度
  • その他の対象物

0006_光通信デバイスのチルト(光学オートコリメータ方式)測定

光通信デバイスのチルト測定

光通信デバイスに組込まれる光学部品、発光素子、受光素子のマウント精度を測定することができます。
さらに、付属する観察光学系を使えば、角度測定点を確認することも可能です。

微小光学部品のマウントでお困りの際はお問い合わせください。

  • 角度
  • その他の対象物

0005_レンズの組立・光軸調整

レンズの組立・光軸調整

レンズを組み立てる際光軸合わせは重要な調整項目です。
当社のチルトセンサ(光学オートコリメータ方式による非接触角度測定センサ)
を使えば組立時のレンズの角度を測定することができます。
(レンズのコバ面にレーザを照射、反射光から角度を測定など)
工程ごとにレンズの角度を確認、調整することで光軸傾きの無いレンズを
作ることができます。
調整対象: 群レンズ、レンズユニットなど

レンズ測定でお困りの際はお問い合わせください。

  • 角度
  • その他の対象物

0003_半導体製造装置の平行度測定

半導体設備角度調整センサ

半導体設備角度測定センサ、光学オートコリメータ方式による非接触角度測定

チップマウンタ等のハンドラは基準面(ステージ面)と平行である必要が有ります。
今までダイヤルゲージや感圧紙を使い長時間かけて調整をしていましたが、
当社の平行度チルトセンサ(光学オートコリメータ方式による非接触角度測定センサ)
を使い上下両面の角度を同時測定することで作業時間を大幅に短縮することができます。
使用方法は簡単、ステージとハンドラの隙間に本センサを挿入するだけで測定が可能です。
また、今までは不可能であった平行度の数値管理ができます。

測定の様子は下記をご覧ください。

詳細は下記よりお問い合わせください。

  • 角度・変位
  • カメラ

0002_VCM評価装置

VCM評価装置

スマートフォンに搭載されるオートフォーカス(AF)アクチュエータ(VCM)の標準評価装置です。
アクチュエータメーカ、カメラメーカやスマホメーカに至るすべての評価シーンでお使いいただける機能を有しています。

<特徴>
・ 変位チルトセンサを採用、変位と傾きを同時に測定ができます。
・ VCMドライバを内蔵や治具、測定用ターゲットを提供します。
VCMをご準備いただければすぐに評価が行えます。

詳しくはお問い合わせください。

  • 角度・変位・位置
  • カメラ

0001_光学手ぶれ(OIS)評価装置

OIS評価装置

スマートフォンに搭載される光学手ぶれ補正(OIS)アクチュエータの評価装置を販売してます。
アクチュエータメーカからカメラメーカ、スマホメーカに至る全ての評価シーンでご使用いただけます。
OISアクチュエータの評価に必要なほとんどの評価測定項目をサポートしています。

<特徴>
・ OIS量産工場で実績のある高速5次元センサ(MF-5550)を採用。変位、角度、位置を同時測定できます。
・ 3軸アクチュエータドライバを内蔵
・ ホール素子の測定、アクチュエータの抵抗測定も行えます。

<付属設備>
・ OISアクチュエータ固定治具も付属します。
「お客様はOISアクチュエータを準備いただく」だけで評価可能な装置をご提供します。

詳しい内容はお問い合わせください。

  • 角度
  • その他の対象物

0009_重力に対する傾き測定

絶対水準に対する角度測定

絶対水準に対する傾きを測定。構造物が垂直に建っているか、規定の角度に装置が
設置されているか等重力に対する様々な角度を測定することができます。
垂直度の定量測定にご使用いただけます。

鉛直方向に対する傾きを高精度に測定できます。

  • その他
  • その他の対象物

0017_レンズの厚さ測定

レンズの厚さ測定

数百μmから百μm以下という超薄型小型レンズの厚さを測定する技術を開発しました。
この領域の厚さを接触針走査法ではなく、低コヒーレンス干渉法でもないまったく新しい
測定方法により非接触、短時間、高精度かつリーズナブルなコストで測定できます。
両凸、両凹、メリスカス等様々な種類のレンズに対応可能であり、レンズを回転
することなく正確にレンズ頂点の厚さを知ることができます。

超薄型レンズの測定でお困りでしたら下記よりお問い合わせください。