その他製品OTHER PRODUCTS

その他製品とは

レーザを用いたオートコリメータ方式の角度測定に加え、変位なども同時に測定を可能にした計測器や、レーザ半田用の光源、

レンズの波面収差測定装置などの製品を紹介いたします。

多軸測定(6軸)

高速6次元センサ

  • MS-2000

スマートフォンなどに搭載されるセンサーシフト方式の手振れ補正機能付きのカメラモジュールアクチュエータの評価、検査に最適な装置です。

特殊専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト(θX,θY)、変位(Z)、位置(X,Y)、回転(θ)の6項目を同時に高精度で測定ができます。

主な仕様

測定範囲

チルト(θX-θY)   :φ2deg
変位 (Z)      :±1mm
位置 (X-Y)     :±0.5mm
回転 (θ)      :±90min

ワーキングディスタンス :90±0.5mm

●測定動画

多軸測定(5軸)

高速5次元センサ

  • MF-5550

スマートフォンなどに搭載されるレンズシフト方式の手振れ補正機能(OIS)付きのカメラモジュールアクチュエータ評価、検査に最適な装置です。

専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト(θX,θY)、変位(Z)、位置(X,Y)の5項目を同時に高精度で高速測定できます。

主な仕様

測定範囲
チルト(θX-θY)    : φ2deg
変位 (Z)       : ±1mm
位置 (X-Y)      : ±0.5mm

ワーキングディスタンス  : 80±0.5mm
サンプリング       : 10kHz

多軸測定(3軸)

変位チルトセンサ

  • VH-1100 / VH-3100

スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス(AF)アクチュエータVCMの測定、評価にご使用いただけます。

ミラーターゲットを用いることで変位(Z)と同時にチルト(θX-θY)の測定が可能です。

測定データはアナログ(±5V)で出力されるため、10kHzでのサンプリングが可能です。

VH-1100

測定範囲チルト(θX-θY) : φ2deg
      変位 (Z) : ±1.5mm
ワーキングディスタンス  : 60±0.5mm
       外形寸法  : W125×D150×H56mm

VH-3100

測定範囲チルト(θX-θY) : φ4deg
      変位 (Z) : ±2mm
ワーキングディスタンス  : 80±0.5mm
       外形寸法  : W140×D150×H56mm

共通仕様
     サンプリング  : 10kHz

広角変位チルトセンサ

  • WH-2100

スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス(AF)アクチュエータVCMの測定、評価にご使用いただけます。

専用ターゲットを用いることで変位(Z)と同時にチルト(θX-θY)の測定が可能です。

測定データはアナログ(±5V)で出力されるため、10kHzでのサンプリングが可能です。

測定範囲チルト(θX-θY) : φ10deg
      変位 (Z) : ±5mm
ワーキングディスタンス  : 71±0.5mm
       外形寸法  : W185×D230×H56mm

     サンプリング  : 10kHz

レンズ測定(波面収差測定)

全視野波面収差測定装置

  • AW-1000

レンズの光軸上及び光軸外の波面収差を全自動で測定が可能な装置です。

主な測定項目

波面(2D,3D)
点像分布
ゼルニケ級数
MTF(1,全周波数、2,全回転方向、3,スルーフォーカス)

●測定動画