その他製品OTHER PRODUCTS
その他製品とは
レーザを用いたオートコリメータ方式の角度測定に加え、変位なども同時に測定を可能にした計測器や、レーザ半田用の光源、
レンズの波面収差測定装置などの製品を紹介いたします。
多軸測定（6軸）
高速6次元センサ
- MS-2000
スマートフォンなどに搭載されるセンサーシフト方式の手振れ補正機能付きのカメラモジュールアクチュエータの評価、検査に最適な装置です。
特殊専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト（θX,θY）、変位（Z）、位置（X,Y）、回転（θ）の6項目を同時に高精度で測定ができます。
主な仕様
測定範囲
チルト（θX-θY） ：φ2deg
変位 （Z） ：±1mm
位置 （X-Y） ：±0.5mm
回転 （θ） ：±90min
ワーキングディスタンス ：90±0.5mm
多軸測定（5軸）
高速5次元センサ
- MF-5550
スマートフォンなどに搭載されるレンズシフト方式の手振れ補正機能（OIS）付きのカメラモジュールアクチュエータ評価、検査に最適な装置です。
専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト（θX,θY）、変位（Z）、位置（X,Y）の5項目を同時に高精度で高速測定できます。
主な仕様
測定範囲
チルト（θX-θY） ： φ2deg
変位 （Z） ： ±1mm
位置 （X-Y） ： ±0.5mm
ワーキングディスタンス ： 80±0.5mm
サンプリング ： 10kHｚ
多軸測定（3軸）
変位チルトセンサ
- VH-1100 / VH-3100
スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス（AF）アクチュエータVCMの測定、評価にご使用いただけます。
ミラーターゲットを用いることで変位（Z）と同時にチルト（θX-θY）の測定が可能です。
測定データはアナログ（±5V）で出力されるため、10kHzでのサンプリングが可能です。
VH-1100
測定範囲チルト（θX-θY） ： φ2deg
変位 （Z） ： ±1.5mm
ワーキングディスタンス ： 60±0.5mm
外形寸法 ： W125×D150×H56mm
VH-3100
測定範囲チルト（θX-θY） ： φ4deg
変位 （Z） ： ±2mm
ワーキングディスタンス ： 80±0.5mm
外形寸法 ： W140×D150×H56mm
共通仕様
サンプリング ： 10kHｚ
広角変位チルトセンサ
- WH-2100
スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス（AF）アクチュエータVCMの測定、評価にご使用いただけます。
専用ターゲットを用いることで変位（Z）と同時にチルト（θX-θY）の測定が可能です。
測定データはアナログ（±5V）で出力されるため、10kHzでのサンプリングが可能です。
測定範囲チルト（θX-θY） ： φ10deg
変位 （Z） ： ±5mm
ワーキングディスタンス ： 71±0.5mm
外形寸法 ： W185×D230×H56mm
サンプリング ： 10kHｚ
レンズ測定（波面収差測定）
全視野波面収差測定装置
- AW-1000
