その他製品OTHER PRODUCTS
その他製品とは
レーザを用いたオートコリメータ方式の角度測定に加え、変位なども同時に測定を可能にした計測器や、レーザ半田用の光源、
レンズの波面収差測定装置などの製品を紹介いたします。
多軸測定(6軸)
高速6次元センサ
- MS-2000
スマートフォンなどに搭載されるセンサーシフト方式の手振れ補正機能付きのカメラモジュールアクチュエータの評価、検査に最適な装置です。
特殊専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト(θX,θY)、変位(Z)、位置(X,Y)、回転(θ)の6項目を同時に高精度で測定ができます。
主な仕様
測定範囲
チルト(θX-θY) :φ2deg
変位 (Z) :±1mm
位置 (X-Y) :±0.5mm
回転 (θ) :±90min
ワーキングディスタンス :90±0.5mm
多軸測定(5軸)
高速5次元センサ
- MF-5550
スマートフォンなどに搭載されるレンズシフト方式の手振れ補正機能(OIS)付きのカメラモジュールアクチュエータ評価、検査に最適な装置です。
専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト(θX,θY)、変位(Z)、位置(X,Y)の5項目を同時に高精度で高速測定できます。
主な仕様
測定範囲
チルト(θX-θY) : φ2deg
変位 (Z) : ±1mm
位置 (X-Y) : ±0.5mm
ワーキングディスタンス : 80±0.5mm
サンプリング : 10kHz
多軸測定(3軸)
変位チルトセンサ
- VH-1100 / VH-3100
スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス(AF)アクチュエータVCMの測定、評価にご使用いただけます。
ミラーターゲットを用いることで変位(Z)と同時にチルト(θX-θY)の測定が可能です。
測定データはアナログ(±5V)で出力されるため、10kHzでのサンプリングが可能です。
VH-1100
測定範囲チルト(θX-θY) : φ2deg
変位 (Z) : ±1.5mm
ワーキングディスタンス : 60±0.5mm
外形寸法 : W125×D150×H56mm
VH-3100
測定範囲チルト(θX-θY) : φ4deg
変位 (Z) : ±2mm
ワーキングディスタンス : 80±0.5mm
外形寸法 : W140×D150×H56mm
共通仕様
サンプリング : 10kHz
広角変位チルトセンサ
- WH-2100
スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス(AF)アクチュエータVCMの測定、評価にご使用いただけます。
専用ターゲットを用いることで変位(Z)と同時にチルト(θX-θY)の測定が可能です。
測定データはアナログ(±5V)で出力されるため、10kHzでのサンプリングが可能です。
測定範囲チルト(θX-θY) : φ10deg
変位 (Z) : ±5mm
ワーキングディスタンス : 71±0.5mm
外形寸法 : W185×D230×H56mm
サンプリング : 10kHz
レンズ測定(波面収差測定)
全視野波面収差測定装置
- AW-1000