その他製品

その他製品とは

レーザを用いたオートコリメータ方式の角度測定に加え、変位なども同時に測定を可能にした計測器や、レーザ半田用の光源、

レンズの波面収差測定装置などの製品を紹介いたします。

多軸測定(6軸)

高速6次元センサ

  • MS-2000

スマートフォンなどに搭載されるセンサーシフト方式の手振れ補正機能付きのカメラモジュールアクチュエータの評価、検査に最適な装置です。

特殊専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト(θX,θY)、変位(Z)、位置(X,Y)、回転(θ)の6項目を同時に高精度で測定ができます。

主な仕様

測定範囲

チルト(θX-θY) :±60min
変位 (Z)   : ±1,000μm
位置 (X-Y)  :±500μm
回転 (θZ)   :±90min

ワーキングディスタンス : 90±0.5mm

●測定動画

多軸測定(5軸)

高速5次元センサ

  • MF-5550

スマートフォンなどに搭載されるレンズシフト方式の手振れ補正機能(OIS)付きのカメラモジュールアクチュエータ評価、検査に最適な装置です。

専用ターゲットを用いることで、対象物のチルト(θX,θY)、変位(Z)、位置(X,Y)の5項目を同時に高精度で高速測定できます。

主な仕様

測定範囲 チルト(θX-θY) :±60min (円形範囲)
       変位 (Z)   : ±1,000μm
       位置 (X-Y)   :±500μm

ワーキングディスタンス : 80±0.5mm
サンプリング : 10kHz

多軸測定(3軸)

変位チルトセンサ

  • VH-1100
  • HT-8490

スマートフォンなどに搭載されるオートフォーカス(AF)アクチュエータVCMの測定、評価にご使用いただけます。

ミラーターゲットを用いることで変位(Z)と同時にチルト(θX-θY)の測定が可能です。

測定データはアナログ(±5V)で出力されるため、10kHzでのサンプリングが可能です。

VH-1100

測定範囲チルト(θX-θY) :±60min
      変位 (Z)   : ±1,500μm

ワーキングディスタンス : 60±0.5mm
外形寸法 :W125×D150×H56mm

HT-8490

測定範囲チルト(θX-θY) :±90min
      変位 (Z)   : ±4,000μm

ワーキングディスタンス : 80±0.5mm
外形寸法 : W155×D180×H56mm

共通仕様

サンプリング : 10kHz

多軸測定(撮像素子6軸)

6次元センサ

  • SD-2100

デジタルスティルカメラや監視カメラなどの撮像素子の位置決め専用の多軸測定センサです。

半導体レーザ光による変位(Z)とチルト(θX-θY)測定、LED光源による位置測定(X-Y)及び回転(θZ)の6軸が同時に測定可能です。

位置決めされたマスターの撮像素子を登録することで、相対測定によりコピーを製作することができます。

主な仕様

測定範囲 チルト(θX-θY) :±60min
       変位 (Z)   : ±600μm
       位置 (X-Y)   :約1.8×1.6mm (視野)
       回転 (θZ)   :±60min

測定回数 : 4回/秒
ワーキングディスタンス : 100±0.5mm

●測定動画

レーザはんだ装置

光源ヘッド

  • VL-0006

出力の高いレーザをつかい、非接触ではんだをとかすための装置です。

青色 LDを搭載し、ロングワーキング、微小スポットを実現しております。

赤外光に比べ、熱吸収率のよい450nm波長を採用したことで、周辺部への熱ダメージを低減しております。

VCM、OISのワイヤのはんだなど極めて小さな部品を対象としております。

主な仕様

ビーム径  : 約0.2×0.4mm
出射パワー: 1.2W (JIS C6802 2014 クラス4)
レーザ波長:450±10nm

ワーキングディスタンス : 296mm

レンズ測定(波面収差測定)

全視野波面収差測定装置

  • AW-1000

レンズの光軸上及び光軸外の波面収差を全自動で測定が可能な装置です。

主な測定項目

波面(2D,3D)
点像分布
ゼルニケ級数
MTF(1,全周波数、2,全回転方向、3,スルーフォーカス)

●測定動画