【CIOE 2026：中国深圳】CPO・光電融合×精密アライメント｜KOS出展のお知らせ
この度、Katsura Opto Systems（KOS）は、CIOE 2026：中国国際光電博覧会に出展いたします。
「微小な傾き、高さ、平行度」を、非接触で直接測ってみませんか？
CPO・光電融合・半導体製造では、ファイバー、チップ、ウェーハ、光学部品などの精密な位置合わせが求められます。
KOSの光学計測センサなら、次のような工程で生じる微小な傾き・高さ・平行度を非接触で測定し、装置内で数値として管理できます。
- ファイバーカップリング ― ファイバー・光学部品の微小角度測定
- CPO／シリコンフォトニクス ― Tilt・Heightのリアルタイム測定
- 半導体・接合装置 ― 接合面の平行度・傾き測定
- 自動アライメント ― 微小角度の直接計測・フィードバック
- インライン検査 ― 小型センサによる装置内計測
会場でご紹介する計測・製品
- 小型センサを装置に組み込んでインライン計測
TM-2070 超小型チルトセンサ - 微小な傾きを非接触で高精度測定
HR-1100 高分解能チルトセンサ - 対向する2面の平行度を測定
KW-0007 平行度センサ - 1台でTiltとHeightを同時測定
SH-3200 一体型変位チルトセンサ - ±5°の広い範囲で傾きを測定
ST-0001 一体型チルトセンサ
「この工程の傾き、測れないかな？」をお持ちください。
実機を見て、触って、測定原理と使い方をご確認いただけます。ぜひ Hall 10／10D29 にお立ち寄りください。皆様のご来場を心よりお待ちしております。
開催概要
会期：2026年9月9日（水）～11日（金）
会場：Shenzhen World Exhibition & Convention Center（中国・深圳）
展示分野：情報通信展（Information and Communication Expo）
ブースNo.：Hall 10／10D29
出展場所：苏州秋奥光电科技有限公司様 ブース内
光電融合や半導体関連の開発・評価・検査業務にお役立ていただければ幸いです。