0014_撮像素子(CMOSセンサ)の傾き測定

撮像素子の傾き測定

CMOSなど撮像素子の傾きを測定します。 撮像素子に取り付けれられているカバーガラスや
IRカットフィルター等の影響を受けずに撮像素子表面の傾きを回折光を測定することで測定します。

なお、2018年3月現在、撮像素子とレンズのバックフォーカス調整を非通電で行う技術も
開発中です<特許出願中>。撮像素子の測定でお困りなことがありましたら
下記よりお問い合わせください。