軸外収差測定-2

光を用いてデータを記録、再生する仕組みをもつものは
様々ありますが、CDやDVDなどの光ディスクもその一つです。

今となってはコンシューマーマーケットにおいて半導体メモリに
主役を奪われていますが、ビデオレコーダーやゲーム機などに搭載され、
またデーターセンターなどでは信頼性の高いメディアとして重宝されています。
この光学ドライブ装置の中にデータを読み書きする光ピックアップという
モジュールが搭載されています。

過去弊社では光ピックアップの性能を光学的に評価する
装置を扱っていました。

光ピックアップは極めて小さなビームスポットを作り出す
必要があり、このスポット像を解析することで、光学的な
エラー(収差)を解析し、光ピックアップの性能を評価していました。

光ピックアップ時代はツェルニケの多項式をもちいて
非点収差、コマ収差、球面収差の解析を行っていました。

光ピックアップは単にビームスポットを作り出せばよいため
収差の測定は軸上だけで問題ありませんでした。

しかし、映像を撮るためのカメラモジュールなどは軸上
だけではなく、軸外の確認が当然必要になります。

カメラモジュールはMTFで評価することが一般的ですが、
MTFの測定値はカメラにおける体力測定であり、
セットメーカーにとっては便利な数字です。

しかし、レンズメーカーにとってはレンズのどこが
どのような状態なのかといった解析ができず、
製造工程に対しては有益な測定値にはならないのが
現状です。

レンズだけに着目した場合、カメラモジュールに組み上げる前
段階で、軸上、軸外の収差を定量的に測定できればレンズ単体の
品質管理およびレンズの製造工程へフィードバックをかけられる
などのメリットが生まれます。

レンズの収差を測定する手法は波面干渉計などもありますが、
光軸外の収差を測定するには測定物のセッティングが難しく、
測定再現性がとれない等、汎用性は限られてきます。

そこで当社では軸外収差も軸上収差と同じ分解能で同時に
測定ができる装置の開発を引き続き行っています。